Phương pháp chuẩn bị mẫu để phân tích quang phổ kế XRF
Với máy đo phổ XRF, hầu hết các nguyên tố chỉ được đo trên bề mặt của mẫu. Đây là lý do tại sao điều kiện của bề mặt mẫu về độ nhẵn và đồng nhất (diện tích bề mặt và độ sâu) là rất cần thiết. Trong thực tế, điều này ít nhiều xác định tổng sai số phân tích. Do đó, việc chuẩn bị mẫu cho XRF trở thành thành phần quan trọng nhất của phương pháp thử.
Tiếng Việt
Tiếng Anh
Tiếng Hàn
Tiếng Trung
