Tin tức

Sử dụng máy quang phổ ED-XRF để phân tích lưu huỳnh và kim loại trong dầu / chất bôi trơn

Máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán bước sóng đơn sắc, một phương pháp phát hiện độ chọn lọc cao và độ nhạy cao, có thể cung cấp giới hạn phát hiện hàm lượng lưu huỳnh quang trong các sản phẩm dầu lên đến 0,2ppm và có tính năng phát hiện hiệu quả, chi phí thấp, khả năng lặp lại tốt, hoạt động thuận tiện và giám sát trực tuyến.

X-quang huỳnh quang phương pháp phân tích khác với phương pháp hóa học, nó là một phương pháp đo so sánh, có được kết quả chính xác bằng cách Thiết lập tương ứng toán học mô hình sau khi Đo một số mẫu được biết đến gắn kết nhất định (mẫu tiêu chuẩn)

Lĩnh vực quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) đầy thách thức và thú vị. Với các ưu điểm như chuẩn bị mẫu dễ dàng, phân tích đa nguyên tố nhanh chóng không phá hủy và khả năng sàng lọc các ẩn số trong một loạt các ma trận mẫu như chất lỏng, chất rắn, bùn, bột, bột nhão, màng mỏng, bộ lọc không khí và nhiều loại khác; XRF cung cấp một sự bổ sung hoàn hảo cho các loại thiết bị phân tích khác được tìm thấy trong phòng thí nghiệm phân tích.

Đối với các tàu hoạt động bên ngoài các Khu vực Kiểm soát Khí thải được chỉ định, IMO đã đặt ra giới hạn đối với lưu huỳnh trong dầu nhiên liệu sử dụng trên tàu là 0,50% m / m (khối lượng theo khối lượng) từ ngày 1 tháng 1 năm 2020. Điều này sẽ làm giảm đáng kể lượng ôxít lưu huỳnh phát ra từ tàu biển và phải có những lợi ích lớn về sức khỏe và môi trường cho thế giới, đặc biệt là đối với những người dân sống gần các cảng và bờ biển.

Để xem một phần tử, bạn phải kích thích phần tử đó lớn hơn ít nhất 2 keV. Đây là lý do tại sao điện áp hoặc dải năng lượng được phân tích là rất quan trọng. Nếu bạn chọn 15 keV, nó sẽ được tối ưu hóa cho các nguyên tố nhẹ hơn sắt, đặc biệt là canxi, kali, titan và các nguyên tố khác.

Với máy đo phổ XRF, hầu hết các nguyên tố chỉ được đo trên bề mặt của mẫu. Đây là lý do tại sao điều kiện của bề mặt mẫu về độ nhẵn và đồng nhất (diện tích bề mặt và độ sâu) là rất cần thiết. Trong thực tế, điều này ít nhiều xác định tổng sai số phân tích. Do đó, việc chuẩn bị mẫu cho XRF trở thành thành phần quan trọng nhất của phương pháp thử.

Máy phân tích phát ra tia X. Tia X chiếu vào mẫu và làm cho các phần tử trong mẫu phát huỳnh quang và quay trở lại đầu dò tia X trong máy phân tích. Sau đó, máy phân tích đếm chúng và thực hiện nhiều phép toán phức tạp để có được kết quả.