k-Space ra mắt giải pháp đo lường màng mỏng mới nhất
k-Space Associates đã công bố ra mắt công cụ đo lường màng mỏng mới nhất của mình, kSA XRF (huỳnh quang tia X). Nó đo độ dày màng cho các vật liệu quá mỏng để đo quang học đáng tin cậy. Kỹ thuật này đã được chứng minh là có thể đo các lớp bán dẫn và điện môi trên các tấm kính, tấm mỏng và chất nhạy cảm cho các ứng dụng trong năng lượng mặt trời, năng lượng và các thiết bị màng mỏng khác.