Tin tức

Waygate Technologies và các đối tác của mình, Trung tâm Công nghiệp hóa Pin Vương quốc Anh (UKBIC) và PXL-ICE, nằm trong số những người chiến thắng trong vòng gần đây của cuộc thi tài trợ Thử thách Pin Faraday  do Nghiên cứu và Đổi mới Vương quốc Anh (UKRI) dẫn đầu, một cơ quan công cộng được tài trợ bởi Bộ Chiến lược Kinh doanh, Năng lượng và Công nghiệp của Anh (BEIS).

Waygate Technologies,and its partners, the UK Battery Industrialisation Centre (UKBIC) and PXL-ICE, are among the winners of the recent round of the Faraday Battery Challenge funding competition led by UK Research and Innovation (UKRI), a public body sponsored by the British Department for Business, Energy and Industrial Strategy (BEIS).

Được hỗ trợ bởi trí tuệ nhân tạo (AI) từ Đơn vị Kinh doanh Đo lường Công nghiệp của Tập đoàn Nikon, phần mềm Phân tích LiB.Overhang biến đổi việc đánh giá phần nhô ra của cực dương trong các tế bào pin lithium-ion (LiB). Thông qua kiểm tra chính xác và nhất quán, LiB.Overhang Analysis sử dụng chức năng quét CT X-quang 3D để đưa tự động hóa vào phân xưởng – giúp rút ngắn thời gian chu kỳ kiểm tra, điều rất quan trọng trong quá trình sản xuất hàng loạt.

Powered by artificial intelligence (AI) from the Industrial Metrology Business Unit of Nikon Corporation, LiB.Overhang Analysis software transforms the assessment of anode overhang in lithium-ion battery (LiB) cells. Through precise and consistent inspection, LiB.Overhang Analysis uses 3D X-ray CT scanning to bring automation to the shop floor – driving shorter inspection cycle times that are crucial during mass production.

Thể hiện cam kết của mình đối với việc kiểm tra và đo lường dây chuyền sản xuất, Đơn vị Kinh doanh Đo lường Công nghiệp của Tập đoàn Nikon đã giới thiệu bản phát triển phần mềm mới nhất của mình: Giao diện OPC UA của Inspect-X Automation. Từ các hệ thống thực thi sản xuất đến các hệ thống kiểm soát quy trình bằng thống kê, Inspect-X Automation OPC UA hợp lý hóa cách thức phần cứng và phần mềm đa dạng giao tiếp với các máy CT X-quang của Nikon tại xưởng sản xuất.

Demonstrating its commitment to production line inspection and measurement, the Industrial Metrology Business Unit of Nikon Corporation has introduced its latest software development: Inspect-X Automation OPC UA Interface. From manufacturing execution systems to statistical process control systems, Inspect-X Automation OPC UA streamlines the way diverse hardware and software communicate with Nikon’s X-ray CT machines on the shop floor.

k-Space Associates đã công bố ra mắt công cụ đo lường màng mỏng mới nhất của mình, kSA XRF (huỳnh quang tia X). Nó đo độ dày màng cho các vật liệu quá mỏng để đo quang học đáng tin cậy. Kỹ thuật này đã được chứng minh là có thể đo các lớp bán dẫn và điện môi trên các tấm kính, tấm mỏng và chất nhạy cảm cho các ứng dụng trong năng lượng mặt trời, năng lượng và các thiết bị màng mỏng khác.

k-Space Associates has announced the launch of its newest thin film metrology tool, the kSA XRF (X-Ray fluorescence). It measures film thickness for materials that are too thin for reliable optical measurements. This technique has been proven to measure semiconductor and dielectric layers on glass panels, wafers, and susceptors for applications in solar, power, and other thin film devices.