Tin tức

Thiết bị Phân tích huỳnh quang tia X – Nhu cầu sử dụng ngày càng tăng

Thiết bị phân tích huỳnh quang tia X (XRF) là một trong những thiết bị quan trọng nhất trong nhóm các công nghệ sử dụng để kiểm tra không phá hủy (NDT) và phân tích môi trường. Với yêu cầu về đào tạo vận hành đơn giản, hầu như bất kỳ kỹ thuật viên nào cũng có thể thực hiện kiểm tra, phân tích thành phần bằng thiết bị XRF trong các ứng dụng khác nhau. Bên cạnh đó, hầu hết các thiết bị đều nhẹ mà lại có công suất cao, XRF là một trong những thiết bị được sử dụng phổ biến nhất hiện nay.

Chụp X-quang Vi Tiêu điểm trong Kiểm tra không phá hủy NDT

Ngay từ khi ra đời các kỹ thuật chụp X-quang trong kiểm tra không phá hủy (NDT), các nhà chế tạo đã luôn hướng đến việc nâng cấp các máy chụp X-quang để có kết quả hỉnh ảnh với nhiều thông tin chi tiết thu được hơn nữa. Trong kỹ thuật chụp ảnh phóng xạ, khi hình ảnh rõ ràng với độ chi tiết tốt là điều tối quan trọng, thì yếu tố giới hạn – dạng hình học của kỹ thuật thường vượt quá khả năng phân giải của phim.

Thiết bị đo hạt nhân phóng xạ di động

Các thiết bị đo hạt nhân phóng xạ có rất nhiều loại khác nhau nhưng về cơ bản đều sử dụng bức xạ ion hóa dưới dạng tia X hoặc bức xạ gamma, neutron, alpha hoặc beta. Các nguồn phóng xạ được sử dụng trong các thiết bị này là nguồn kín có hoạt độ ở mức trung bình hoặc thấp. Việc mua, sử dụng và xử lý đều phải tuân theo các quy định của nhà nước về bảo vệ bức xạ.

Bức xạ năng lượng kép xác định độ dày lớp cặn trong đường ống dẫn dầu

Lớp cặn bên trong các đường ống dẫn dầu có thể dẫn đến nhiều vấn đề nghiêm trọng như suy giảm đường kính đường ống, ăn mòn và làm hỏng thiết bị khoan, giảm hiệu suất và giảm tuổi thọ các thiết bị,… Kỹ thuật sử dụng tia bức xạ gamma là kỹ thuật đo không xâm lấn (không phá hủy) phù hợp để xác định các lớp cặn đó.

Công nghệ bức xạ đo độ dày của lớp băng trên tôm đông lạnh

Viện nghiên cứu thực phâm quốc gia Đan Mạch (DTU) và Tập đoàn Royal Greenland mới đây đã hợp tác phát triển và đưa ra một công nghệ mới có thể đo độ dày của lớp băng trên tôm đông lạnh. Đây là điều quan trọng cần biết để xác định mức độ tươi của tôm và giúp người tiêu dùng xác định được lượng tôm phù hợp. Giải pháp này dựa trên công nghệ bức xạ terahertz và công nghệ này có thể được sử dụng để đo độ dày của vô số vật liệu.

Phương pháp chụp X-quang mới sử dụng khoáng chất tự nhiên hackmanite

Các nhà nghiên cứu từ Đại học Turku đã phát hiện ra một phương pháp chụp X-quang mới dựa trên khả năng tạo màu của khoáng vật tự nhiên hackmanite. Họ cũng đã tìm ra cách thức và nguyên do hackmanite thay đổi khi tiếp xúc với tia X. Hackmanite [Na8Al6Si6O24(Cl2,S)] là một biến thể chứa lưu huỳnh của khoáng sodalite [Na8Al6Si6O24Cl2].

Phát hiện khuyết tật lớp vỏ bọc cáp điện bằng kỹ thuật bức xạ

Khi bắn phá vật liệu bằng neutron hoặc ion gia tốc, lớp bề mặt vật liệu sẽ xuất hiện các biến đổi vật lý và hóa học. Trung tâm Nghiên cứu Hạt nhân Quốc gia Ba Lan đã nghiên cứu chi tiết về các quá trình xảy ra trong điều kiện bị tác đốc bức xạ trên vật liệu polyme.

Hệ thống đo độ dày vật liệu bằng bức xạ

Hệ thống đo dựa trên nguyên lý truyền bức xạ cho đến này vẫn được coi là công cụ đo độ dày không tiếp xúc vật liệu hiệu quả hàng đầu. Các hệ thống này đã được sử dụng rộng rãi trong công nghiệp và trong nhiều ứng dụng, quy trình sản phẩm tấm từ hơn 6 thập kỷ qua. Tuy nhiên, phần lớn thời gian này, những hạn chế về công nghệ và tốc độ xử lý đã gây cản trở rất nhiều cho các con đường và mức độ phát triển mới trong lĩnh vực này.