Sử dụng XRF để phát hiện tồn dư kim loại nặng trong đồ chơi trẻ em

Phát hiện nhanh chóng hàm lượng Chì, Thuỷ ngân, Cadmium và các kim loại nặng khác với phương pháp huỳnh quang quang phổ tia X (XRF)

Đồ chơi trẻ em nhiễm kim loại nặng và các chất độc hại khác – đôi khi ở hàm lượng lớn, vượt ngưỡng cho phép rất nhiều lần - đang xuất hiện càng nhiều hơn trên thị trường. Vì vậy, các nhà sản xuất đồ chơi đang đối mặt áp lực rất lớn về yêu cầu chứng minh tính an toàn của sản phẩm, để phù hợp với các nhãn an toàn sản phẩm..

Tại châu Âu, đồ chơi trẻ em phải đạt các chứng chỉ an toàn và tiêu chuẩn DIN EN 71, trong đó quy định các tiêu chuẩn kiểm tra vật lý và cơ học, thành phần các chất hữu cơ, an toàn điện, và các chỉ tiêu giới hạn tối đa của các nguyên tố kim loại nặng và chất độc hại khác. Tiêu chuẩn này quy định rằng mẫu cần đo phải được cho phản ứng với axit hydrochloric nồng độ 0.07 mol/l trong 1-2 giờ, dung dịch này mô phỏng dịch vị được tiết ra. Khi mẫu vật sau khi hòa tan sẽ được phân tích bằng thiết bị AAS hoặc ICP. Nhược điểm của phương pháp này là phải phá hủy mẫu và thời gian test rất lâu.

Phương pháp huỳnh quang quang phổ tia X (XRF) là phương pháp phù hợp để phân tích nhanh hàm lượng các chất cấm như Chì, Thuỷ ngân, Cadmi, các kim loại nặng khác mà không phá huỷ vật mẫu. Bảng 1 cho thấy giới hạn phát hiện của các sản phẩm nhựa khác nhau được đo lường với máy FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD. Với phương pháp này, kết quả đo chính xác có thể được sử dụng để so sánh với giới hạn cho phép.

Giới hạn cho phép theo DIN EN 71 và giới hạn theo nồng độ ppm cho ba loại sản phẩm nhựa khác nhau, đo lường với máy FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD. Giá trị trung bình cho mẫu nhựa ABS màu nâu (và độ lệch chuẩn trong ngoặc). Kết quả cho thấy các kim loại Sb, As, Ba, Cr đã vượt ngưỡng cho phép. Sử dụng như một phương pháp sàng lọc, máy huỳnh quang quang phổ tia X cảnh báo người dùng khi một giá trị vượt quá ngưỡng cho phép. Các phương pháp khác như dùng hoá chất có thể được sử dụng để kiểm tra chéo kết quả.

Nồng độ các chất cấm cũng có thể được đo lường chọn lọc, ví dụ trên các chi tiết được sơn của sản phẩm. Với phương pháp huỳnh quang quang phổ tia X, cả lô sản phẩm có thể được kiểm tra nhanh chóng, và từ đó lại bỏ các chi tiết không phù hợp – điều không thể làm với phương pháp kiểm tra ngẫu nhiên. Một ưu điểm nữa là hàm lượng các kim loại nặng có thể được đo lường cùng lúc trong một lần đo.

Với máy huỳnh quang quang phổ tia X FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD, hàm lượng các chất cấm trong đồ chơi dù nhỏ nhất cũng có thể được phát hiện dễ dàng và nhanh chóng, và trên hết không phá huỷ vật mẫu. Điều này giúp nhà sản xuất đánh giá sản phẩm có phù hợp với các tiêu chí an toàn hay không. Để biết thêm thông tin, hãy liên hệ ngay với Helmut Fischer Việt Nam.