Lợi ích của công nghệ Quang phổ Huỳnh quang Tia X – XRF

Máy quang phổ huỳnh quang tia X là thiết bị đo huỳnh quang tia X phát ra để phân tích thành phần nguyên tố trong vật liệu. Những lợi ích mà công nghệ huỳnh quang tia X mang lại trong thực tế hiện nay là vô cùng lớn. 

XRF có độ nhạy rất cao với các nguyên tố kim loại đặc biệt là các nguyên tố từ nhôm (Al) đến uranium (U) trong bảng tuần hoàn hóa học. Đối với  phân tích độ dày của lớp mạ của vật liệu, XRF là một công nghệ vô cùng hữu ích có thể áp dụng để đo cho bất kỳ lớp mạ kim loại  nào, cho dù vật liệu đó được phủ một lớp hay nhiều lớp, vật liệu được mạ là kim loại hay phi kim thì đều có thể dễ dàng xác định. Với các nhu cầu phân tích xác định thành phần hợp kim, công nghệ này có thể xác định được thành phần % của các nguyên tố cấu thành nên loại hợp kim đó và có thể xác định xem chúng thuộc loại vật liệu nào. Ngoài tính năng trên, công nghệ này còn hữu ích trong việc xác định được các ion kim loại có trong bể mạ để kiểm soát quá trình mạ một cách chính xác và hiệu quả cao.

Hầu hết các máy quang phổ huỳnh quang tia X đều có nguyên lý vận hành và cấu tạo tương tự, chỉ khác nhau về công nghệ riêng của mỗi nhà sản xuất đặt ra. Sự khác biệt lớn nhất có thể dễ dàng nhận thấy là công nghệ sử dụng đầu thu tín hiệu. Hiện nay có ba loại đầu thu tín hiệu chính được các nhà sản xuất áp dụng vào quy trình sản xuất máy quang phổ:

- Đầu thu loại bộ đếm tỷ lệ khí hàn kín.

- Đầu thu trạng thái rắn Si-PIN.

- Đầu thu bán dẫn silicon tinh khiết cao (SDD).

Là một trong những Công ty tiên phong và dẫn đầu thị trường trong việc áp dụng công nghệ huỳnh quang tia X ở lĩnh vực đo lường độ dày lớp mạ, Bowman luôn sử dụng những công nghệ tiên tiến và hiện đại nhất trong các dòng sản phẩm của hãng. Điều này giúp cho các thiết bị được sản xuất đạt được sự chính xác, ổn định cao và chiếm được lòng tin tuyệt đối của khách hàng dựa vào những ưu điểm sau:

• Áp dụng công nghệ đầu thu hiện đại nhất.
• Đơn giản hóa quá trình chuẩn bị mẫu và không phá hủy vật liệu đo.
• Tốc độ phân tích nhanh chính xác.
• Vận hành đơn giản.
• Phương pháp phân tích đa năng phù hợp với nhiều loại mẫu khác nhau đã được chứng nhận và sử dụng rộng rãi trong công nghiệp.
• Khả năng tối ưu phân tích cho các điểm nhỏ trên các mẫu lớn được tối ưu hóa.
• Có thể phân tích đồng thời hầu hết các nguyên tố kim loại.