Kính hiển vi tia X với Deep Learning dựa trên AI giúp mở rộng năng suất và khả năng sử dụng

ZEISS giới thiệu các khả năng năng lượng cao hơn và vật kính 40X Prime (40X-P) mới với ZEISS Xradia 630 Versa. Được biết đến với khả năng đạt được Độ phân giải ở khoảng cách xa (RaaD), các hệ thống ZEISS Xradia Versa cho phép một loạt các loại và kích cỡ mẫu trên một phạm vi thang độ dài dài ở độ phân giải cao. Với 40X-P, hệ thống đạt được hiệu suất phân giải vô song 450-500 nm trên toàn dải năng lượng, từ 30 kV đến 160 kV, xác định RaaD 2.0 và mở khóa các khả năng ứng dụng hoàn toàn mới cho các nhà nghiên cứu.

Hình ảnh tia X mới lạ có thể phức tạp, vì vậy các nhà nghiên cứu của ZEISS XRM đã nghiên cứu thói quen của người dùng, tìm hiểu những thách thức của họ và áp dụng các nguyên tắc thiết kế lấy con người làm trung tâm cho ZEISS Xradia 630 Versa. Giờ đây, ngay cả người dùng mới nhất cũng có thể làm việc hiệu quả ngay lập tức. Phần mềm NavX hướng dẫn người dùng thông qua quy trình làm việc tự động với thông tin chuyên sâu về hệ thống thông minh và mang lại kết quả thử nghiệm dễ dàng và hiệu quả hơn đồng thời cho phép người dùng có kinh nghiệm khám phá toàn bộ tính linh hoạt của ZEISS Xradia 630 Versa.

Ngoài ra, Tiện ích truyền tệp NavX (FTU) lấy dữ liệu do kính hiển vi tạo ra và tự động chuyển dữ liệu đó đến các vị trí khác để người dùng có quyền truy cập ở nơi họ cần, khi họ cần.

Với việc ra mắt đồng thời ZEISS Advanced Reconstruction Toolbox (ART) 3.0, ZEISS cung cấp gói AI Supercharger với ZEISS DeepScout hoàn toàn mới cũng như các mô-đun ZEISS DeepRecon Pro cho tất cả các hệ thống ZEISS Xradia Versa.

ZEISS DeepScout sử dụng bộ dữ liệu kính hiển vi 3D có độ phân giải cao làm dữ liệu đào tạo cho bộ dữ liệu có độ phân giải thấp hơn, trường quan sát lớn hơn và nâng cấp dữ liệu khối lượng lớn hơn bằng cách sử dụng mô hình được đào tạo, thể hiện mức tăng thông lượng hiệu quả gấp 100 lần so với mức có thể đạt được bằng độ phân giải không gian rất cao ở một khối lượng tương đương.

ZEISS DeepRecon Pro cung cấp các lợi ích về chất lượng hình ảnh và thông lượng cao trên nhiều loại mẫu khác nhau. Khả năng này khả dụng cho nền tảng ZEISS Xradia 630 Versa, cung cấp khả năng tích hợp và sức mạnh tối đa để cung cấp độ phân giải liền mạch trên các trường quan sát (FOV) lớn với thông lượng cao.

Daniel Sims, người đứng đầu Kính hiển vi tia X của ZEISS, cho biết: “ Với thiết bị hàng đầu mới của mình, chúng tôi đang cung cấp các công nghệ thực sự đổi mới được tích hợp theo một cách rất mạnh mẽ. Mục tiêu của chúng tôi khi phát triển XRM mới này là không chỉ mở rộng khả năng chụp ảnh mà còn đảm bảo rằng tất cả người dùng của chúng tôi có thể dễ dàng tiếp cận toàn bộ tiềm năng của hệ thống và tất cả khách hàng sẽ được hưởng lợi từ năng suất tăng lên trong các ứng dụng của họ. Chúng tôi tin tưởng rằng ZEISS Xradia 630 Versa đã đạt được kết quả này – khả năng chụp ảnh đã được mở rộng đáng kể và nó nhanh hơn và dễ sử dụng hơn. Cả người mới bắt đầu và chuyên gia sẽ có thể nhận được kết quả nhanh hơn với những hiểu biết sâu sắc hơn giúp họ thành công hơn trong các thí nghiệm và cơ sở của mình.”