Công nghệ XRF giúp kiểm soát độ dày các lớp mạ trên nền nhựa

Đo độ dày và phân tích hợp kim các lớp mạ

Các sản phẩm xi mạ trên nền nhựa ngày càng trở nên phổ biến nhờ bề mặt sáng bóng của lớp mạ Chrome. Công nghệ xi mạ trên nền nhựa (Plating on Plastic – PoP) bao gồm nhiều lớp mạ và để đảm bảo sản phẩm sau khi hoàn thành quá trình mạ, không chỉ có hình thức đẹp mà còn có độ bền cao để sử dụng lâu, thì việc kiểm soát độ dày từng lớp mạ trở nên quan trọng hơn bao giờ hết.

Ứng dụng công nghệ đo lường không phá hủy XRF để đo cấu trúc các lớp mạ Chrome/Nickel/Đồng trên nền nhựa

Cấu trúc lớp mạ nhựa PoP thông thường là các lớp mạ Chrome/Nickel/Đồng trên nền nhựa. Lớp mạ Chrome bên ngoài thường chỉ dày khoảng 0,5km hoặc mỏng hơn, trong khi lớp mạ Nickel dày khoảng 5-10km (bao gồm nhiều loại lớp Nickel khác nhau) và nếu lớp mạ Đồng dày khoảng 20-25km, thì tổng độ dày cấu trúc mạ không dày hơn 30km, thì phương pháp sử dụng công nghệ quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) không phá hủy, có khả năng đo độ dày từng lớp mạ đồng thời mỗi lần đo, là phương pháp tối ưu!

Thiết bị XRF với đầu dò dạng Proportional Counter tube (PC tube) là lựa chọn kinh tế và phù hợp nhất. Ngay cả với những điểm đo có kích thước nhỏ, phép đo vẫn đảm bảo độ chính xác và độ lặp lại cao nhờ vào cấu trúc đầu dò tương thích với diện tích nhận tích hiệu lớn. Với buồng đo rộng lớn, dễ sử dụng và bền bỉ, dòng thiết bị FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® hoàn toàn phù hợp để đo các vật mẫu từ kích thước nhỏ đến lớn với những hình dạng phức tạp khác nhau.

Để tối ưu hóa quá trình đo lường, thì việc đặt mẫu đúng vị trí rất cần thiết và để hỗ trợ khách hàng dễ dàng sử dụng thiết bị đúng cách, dòng thiết bị FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® được trang bị tia laser định vị vị trí và hệ thống camera chất lượng cao tạo ra hình ảnh video rõ nét trên phần mềm WinFTM® là một giải pháp hoàn hảo.