- Giỏ hàng chưa có sản phẩm
Optotom và Nikon Metrology đã thắng thầu cung cấp hệ thống Chụp cắt lớp điện toán X-quang diện rộng cho Đại học Công nghệ Kielce ở Ba Lan. Hệ thống Nikon M2 là một hệ thống kiểm tra theo mô-đun, có độ chính xác cao, có bộ điều khiển 8 trục đã được cấp bằng sáng chế, cực kỳ chính xác và ổn định, được xây dựng trên nền đá granit đạt tiêu chuẩn đo lường.
Tùy thuộc vào ứng dụng, người dùng có thể chọn giữa 3 nguồn khác nhau: nguồn lấy nét siêu nhỏ 450 kV độc đáo của Nikon với mục tiêu xoay để quét các mẫu lớn và mật độ cao với độ phân giải micromet, nguồn lấy nét siêu nhỏ 450 kV để quét tốc độ cao và nguồn lấy nét siêu nhỏ 225 kV nguồn với mục tiêu quay cho các mẫu nhỏ hơn. Hệ thống này sẽ được trang bị cả máy dò màn hình phẳng và máy dò Mảng đi-ốt tuyến tính cong (CLDA) độc quyền của Nikon giúp tối ưu hóa việc thu thập tia X mà không thu được các tia X phân tán không mong muốn, mang lại độ tương phản và độ sắc nét tuyệt đẹp của hình ảnh.
M2 lý tưởng cho việc kiểm tra các bộ phận có kích thước khác nhau, từ các mẫu nhỏ, mật độ thấp đến các vật liệu lớn, mật độ cao. Việc lắp đặt hệ thống sẽ diễn ra trong một boong-ke xây dựng cho mục đích đặc biệt. Các bức tường 1,2 m đã được chuẩn bị để nâng cấp trong tương lai lên các dải năng lượng cao hơn. Hệ thống tùy chọn đầy đủ này sẽ là một trong những hệ thống M2 lớn nhất trên thế giới, mang đến cho Đại học Kielce sự linh hoạt cực độ để hỗ trợ tất cả các ứng dụng có thể từ cả nghiên cứu và ngành công nghiệp địa phương.
Bài viết liên quan