THIẾT BỊ FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237

• Máy quang phổ tán xạ năng lượng huỳnh quang tia X  (XRF) tự động dùng để đo độ dày lớp phủ không phá hủy <0.0 5μm và phân tích vật liệu trong vùng đo ppm tuân thủ theo ISO 3497 và ASTM B 568
• 3 lựa chọn đầu dò (Silicon PIN; SDD 20 mm²; SDD 50 mm²)
• 3 loại filter sơ cấp có thể thay thế được
• 4 loại tâm điểm đo thay đổi được
• Vùng đo nhỏ nhất có thể khoảng 0,15 mm
• Chiều cao mẫu đo lên tới 14 cm
• Bàn đo XY có thể lập trình được với độ chính xác vị trí tới 10 µm
• Diện tích buồng mẫu lớn có thể đo các bản mạch in lớn
• Thiết bị đảm bảo an toàn bức xạ

Ứng dụng

• Phân tích vật liệu các lớp mạ và hợp kim (kể cá các lớp mạ mỏng và hàm lượng thấp)
• Ngành công nghiệp điện tử, ENIG, ENEPIG
• Các tiếp điểm và đầu nối
• Ngành công nghiệp thiết kế trang sức và đồng hồ
• Đo các lớp vàng hay lớp palladium mỏng (vài nanomet) trong sản xuất PCB
• Phân tích truy vết các nguyên tố
• Phân tích hàm lượng Chì trong các ứng dụng với độ tin cậy cao (tránh hiện tượng râu thiếc)
• Phân tích các lớp mạ vật liệu cứng