Gọi ngay
0974692294
để mua và đặt hàng nhanh chóng
Mô tả sản phẩm
Phân tích thành phần dung dịch bể mạ và độ dày lớp mạ trên thành phẩm với công nghệ huỳnh quang quang phổ tia X tuân thủ theo DIN ISO 3497 và ASTM B 568
Kích thước điểm đo nhỏ nhất 0.1mm với máy XULM, 0.5mm với máy XUL
Ống phóng tia X hoặc ống phóng tia X microfocus (XULM) với Anode làm bằng Tungsten (Volfram)
Đầu dò Propotional Counter chất lượng cao cho thời gian đo ngắn
Khẩu độ: Cố định hoặc tuỳ chọn 04 chế độ (XULM)
Bộ lọc tín hiệu: Cố định hoặc tuỳ chọn 03 chế độ (XULM)
Bàn đo cố định hoặc điều chỉnh bằng tay
Camera cho phép theo dõi hình ảnh vị trí cần đo
Thiết bị đảm bảo an toàn bức xạ
Ứng dụng
Các lớp mạ điện như lớp kẽm hoặc hợp kim kẽm-niken trên nền sắt (ví dụ như lớp phủ chống ăn mòn trên bu lông và ốc vít)
Phân tích thành phần kim loại trong dung dịch bể mạ
Phân tích độ dày các lớp mạ trang trí Cr/Ni/Cu/ABS
Các lớp mạ trên các giắc cắm hoặc chân kết nối trong ngành công nghiệp điện tử