Gọi ngay
0974692294
để mua và đặt hàng nhanh chóng
Mô tả sản phẩm
Phân tích độ dày lớp mạ kim loại, phân tích thành phần kim loại và kiểm tra phát hiện chất cấm RoHS bằng phương pháp huỳnh quang quang phổ tia X, tuân thủ theo DIN ISO 3497 và ASTM B 568
Đầu dò bán dẫn chất lượng cao (PIN-Diode và SDD) cho độ phân giải cao và kết quả đo chính xác
Đo phát hiện những nguyên tố nhẹ như nhôm, silic, lưu huỳnh trên dòng máy XAN 250 hoặc XAN 252
Khẩu độ: cố định hoặc tuỳ chọn 04 chế độ, kích thước điểm đo nhỏ nhất khoảng 0.3mm
Bộ lọc tín hiệu: cố định hoặc tuỳ chọn 06 chế độ
Bàn đo cố định hoặc di chuyển bằng tay
Camera cho phép theo dõi chính xác vị trí cần đo
Cho phép kích thước vật mẫu cao tối đa 17cm
Ứng dụng
Phân tích không phá huỷ thành phần hợp kim trong nha khoa, phân tích thành phần bạc
Đo phân tích độ dày các lớp ạ nhiều lớp
Đo phân tích các lớp mạ với độ dày tối thiểu 10nm trong ngành vật liệu điện tử và bán dẫn
Đo phát hiện vi lượng kim loại nặng và các chất độc hại trong sản phẩm, ví dụ như hàm lượng chì trong đồ chơi trẻ em
Phân tích thành phần các mẫu kim loại quý với độ chính xác cao cho ngành kim hoàn và chế tác trang sức