- Giỏ hàng chưa có sản phẩm
Danh mục:
SECTừ khóa:
Vận chuyển giao hàng toàn quốc
Phương thức thanh toán linh hoạt
Gọi ngay 0974692294 để mua và đặt hàng nhanh chóng
Mô tả sản phẩm
| X-ray Tube | 120 kV / 200 µA |
|---|---|
| Min. Resolution | 0.2㎛ |
| Table Size | 12inch wafer |
| Detector | 6 inch FPXD |
| CT Scan Method | Oblique CT / Cone beam CT |
| Foot print | 2,380 x 1,450 x 2,120 mm Control Box : 600 x 1,250 x 1,030 mm |
| Weight | 7,000kg |
Nano-focus X-ray Inspection System
Nano-focus Tube of 400 nano resolution is installed which is specialized for Semiconductor Packaging, Wafer Level Packaging(WLP) requiring detection of Sub-micron defects.
Able to trace and inspect defected area precisely by precise movement of axis with Anti-vibration table.
Tomography is available if 3D CT module is added and Wafer Bump Automatic Inspection is available from loading to inspection with wafer handler systems.
Wafer Bump Void
Wafer TSV Void
Sản phẩm liên quan
Tiếng Việt
Tiếng Anh
Tiếng Hàn
Tiếng Trung