THIẾT BỊ FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

• Dòng máy quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) cao cấp và mạnh mẽ với khả năng đo tự động những lớp mạ cực mỏng (<0,05 μm) và phân tích hàm lượng kim loại với độ phân giải đến đơn vị hàng triệu (ppm) theo tiêu chuẩn ISO 3497 và ASTM B 568
• Trang bị đầu dò SDD (silicon drift detector) có độ phân giải tốt nhất hiện nay với diện tích thu nhận tín hiệu lên đến 50 mm²
• 6 loại tấm lọc nhiễu tín hiệu và 4 khẩu độ đo có thể thay đổi tự động để tối ưu hóa chương trình đo
• Phân tích các nguyên tố kim loại nhẹ như Nhôm, Silicon, Phốt pho
• Có thể đo mẫu có chiều cao đến 14 cm
• Bàn đo tự động di chuyển với độ chính xác cao (sai số < 5 µm) đáp ứng yêu cầu đo mẫu kích thước nhỏ
• Cực kỳ bền bỉ khi sử dụng thiết bị liên tục với khả năng ổn định cao
• Thiết bị đáp ứng các tiêu chuẩn an toàn bức xạ

Ứng dụng

• Kiểm tra chất lượng các lớp mạ cực mỏng trong ngành sàn xuất linh kiện điện tử, bán dẫn như các lớp mạ vàng, paladium có độ dày dưới 50 nanomet
• Đo độ dày các lớp mạ gia cường độ cứng trong ngày công nghiệp ô-tô xe máy
• Đo độ dày các lớp mạ trong ngành công nghiệp chế tạo tấm quang điện
• Truy dấu tồn dư các kim loại nặng như chì, thủy ngân theo các tiêu chuẩn RoHS, WEEE, CPSIA và các tiêu chuẩn khác trong các ngành hàng điện tử, tiêu dùng, đóng gói bao bì…
• Phân tích hợp kim vàng và các kim loại quý trong nữ trang, trang sức
• Đo trực tiếp hàm lượng phốt-pho trong lớp mạ Niken hóa đa chức năng